HJ 830-2017 環(huán)境空氣 顆粒物中機(jī)元素的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜法
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HJ 830-2017.Ambient air-Determination of inorganic elements in ambient particle matter- Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy (WD-XRF) method.
1適用范圍
HJ 830規(guī)定了測(cè)定環(huán)境空氣和無(wú)組織排放顆粒物中無(wú)機(jī)元素的波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜法(WD-XRF)。
HJ 830適用于利用濾膜采集的環(huán)境空氣和無(wú)組織排放顆粒物中鈉(Na)、鎂(Mg)、鋁(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、鉀(K)、鈣(Ca)、鈧(Sc)、鈦(Ti)、釩(V)、鉻(Cr)、錳(Mn)、鐵(Fe)、鈷(Co)、鎳(Ni)、銅(Cu)、鋅(Zn)、砷(As)、硒(Se)、鍶(Sr)、溴(Br)、鎘(Cd)、鋇(Ba)、鉛(Pb)、錫(Sn)、銻(Sb)等元素的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于經(jīng)方法驗(yàn)證能夠達(dá)到準(zhǔn)確度和精密度要求的其他無(wú)機(jī)元素。
在本標(biāo)準(zhǔn)推薦的各元素特征譜線(xiàn)條件下,方法檢出限及測(cè)定下限見(jiàn)附錄A。
2規(guī)范性引用文件
本標(biāo)準(zhǔn)引用了下列文件中的條款。凡是不注明日期的引用文件,其有效版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
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3方法原理
X射線(xiàn)管產(chǎn)生的初級(jí)X射線(xiàn)照射到平整、均勻的顆粒物樣品表面時(shí),被測(cè)元素釋放出特征X射線(xiàn)經(jīng)晶體分光后,探測(cè)器在選擇的特征波長(zhǎng)相對(duì)應(yīng)20角處測(cè)量X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度。顆粒物負(fù)載量在一定范圍內(nèi),采用薄樣品分析技術(shù),X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度與被測(cè)元素含量成正比。
4干擾和消除
鉛La線(xiàn)對(duì)砷Ka線(xiàn)有明顯干擾??刹捎酶蓴_元素的校正系數(shù)予以消除。校正系數(shù)由實(shí)驗(yàn)確定,計(jì)算示例見(jiàn)附錄B。
(HJ 830-2017 環(huán)境空氣 顆粒物中機(jī)元素的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容僅部分展示)
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