百檢網(wǎng)第三方機(jī)構(gòu)檢測范圍廣泛，輕工行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品檢測服務(wù)經(jīng)驗豐富，全國眾多合作實驗室，資質(zhì)齊全，可根據(jù)QB/T 1135一2006 首飾金、銀覆蓋層厚度的測定X射線熒光光譜法安排寄樣檢測服務(wù)。QB/T 1135一2006 首飾金、銀覆蓋層厚度的測定X射線熒光光譜法部分相關(guān)內(nèi)容如下。

QB/T 1135一2006.Jewellery一Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods.

1范圍

QB/T 1135規(guī)定了用X射線熒光光譜法測量首飾金、銀覆蓋層厚度的方法。

QB/T 1135適用于首飾及其他工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定(覆蓋層與基體為非相同材質(zhì))。

注:本方法測定的覆蓋層厚度相當(dāng)于足金或足銀的厚度，可根據(jù)實際金、銀覆蓋層含量進(jìn)行折算。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注8期的引用文件，其*新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

QB 1131 首飾金覆蓋層厚度的規(guī)定(ISO 10713:1992， MOD)

QB1132首飾銀覆 蓋層厚度的規(guī)定

3方法原理

采用X射線熒光光譜法測量金、銀覆蓋層厚度是通過檢測和分析X射線熒光而確定覆蓋層厚度的。每種元素的原子都具有其本身獨有的電子排列，對于給定的特征X射線，其能量取決于該原子的原子序數(shù)，因此，不同的材料將產(chǎn)生不同能量的X射線熒光。通過X射線熒光測厚儀對不同材料發(fā)出的特征X射線熒光進(jìn)行能量分辨和強(qiáng)度的檢測，可以確定材料的特性，從而測定覆蓋層厚度。

4儀器設(shè)備

4.1 X 射線熒光光譜儀。

4.2采用不同基體的覆 蓋金、銀鍍層的標(biāo)準(zhǔn)樣塊。

4.3儀器自檢的參考標(biāo)樣。

5儀器的校準(zhǔn)

校準(zhǔn)是儀器測量的先決條件，校準(zhǔn)的目的是使被測樣品覆蓋層厚度對X射線熒光發(fā)射強(qiáng)度之間建立準(zhǔn)確的關(guān)系。

5.1校準(zhǔn)模式的選擇

各類型的X射線熒光測厚儀都具有若干種校準(zhǔn)模式，應(yīng)按覆蓋層和基材的類型選用適當(dāng)?shù)男?zhǔn)模式。

5.2校準(zhǔn)模式的輸入

選定相應(yīng)的校準(zhǔn)模式后，將采用相應(yīng)的存儲器按規(guī)程輸入校準(zhǔn)模式。當(dāng)采用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)時，應(yīng)采用與測試樣品完全一-致的條件 (包括檢測孔尺寸，相同覆蓋層和基材及測量時間等)。在校準(zhǔn)程序結(jié)束時，將自動進(jìn)入測量模式。

(QB/T 1135一2006 首飾金、銀覆蓋層厚度的測定X射線熒光光譜法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容僅部分展示)

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